Partikelräknestandarder används specifikt för att kalibrera laserpartikelräknare och flytande partikelräknare som kräver en NIST-spårbar storlek med en mycket smal toppavvikelse. Partikelräknestandarder är mycket likformiga polystyrenmikrosfärer kalibrerade inom nanometer med hänvisning till NIST SRMN-storleksnormer för spårbarhet i storlekar. Vi använder nanometerreferenser nedan och 1 nm = 0.001 um. Vi tillhandahåller också kiseldioxidpartiklar från 40 nm till 2000 nm för kalibrering av elektron- och atomkraftsmikroskop. Partikelräknestandarder används dessutom för att producera PSL Wafer-standarder som används vid kalibrering av KLA- och Hitachi-skivinspektionssystem. Partikelräknestandarder används för att skapa utmaningar med aerosolstorlek för att kalibrera storleksresponsen för laserpartikelräknare. Storlekskalibrering eller inspektionssystem för ytskanning, SSIS, är ett krav inom halvledarindustrin. Storleksstandarderna 100 nm till 100 mikron kan användas direkt från flaskan utan utspädningar alls. Partikelstorleksstandarderna späds ut till de exakta kraven för den partikelstorleken och används i LPC: er, laserpartikelräknare. Minimal tid används för att ställa in dina kalibreringstester. De sfäriska diametrarna är kalibrerade med spårbarhet till NIST SRM-storlekar. Partikelräknarstandarderna förpackas i avjoniserade vattenlösningar av 15 ml flaskor. Sfärerna har en densitet av 1.05 g / cm3 och ett brytningsindex av 1.59 vid 589 nm, mätt vid 25 grader Celsius. Varje flaska standarder för partikelräknare innehåller ett certifikat för kalibrering och spårbarhet till NIST som innehåller en beskrivning av kalibreringsmetoden och dess osäkerhet och en tabell över kemiska och fysikaliska egenskaper. Polystyren latexpärlor är numrerade för bekväm teknisk service och support efter försäljningen.