Tiêu chuẩn bộ đếm hạt được sử dụng đặc biệt để hiệu chỉnh bộ đếm hạt laser và bộ đếm hạt chất lỏng đòi hỏi tiêu chuẩn kích thước có thể theo dõi NIST với độ lệch chuẩn cực đại rất hẹp. Các tiêu chuẩn truy cập hạt là các kính hiển vi polystyren đồng nhất cao được hiệu chuẩn trong phạm vi nanomet được tham chiếu theo tiêu chuẩn kích thước NIST SRMN để truy xuất nguồn gốc kích thước. Chúng tôi sử dụng các tham chiếu nanomet dưới đây và 1 nm = 0.001m. Chúng tôi cũng cung cấp các hạt silica từ 40nm đến 2000nm để hiệu chuẩn kính hiển vi lực điện tử và lực nguyên tử. Các tiêu chuẩn truy cập hạt được sử dụng bổ sung để sản xuất các tiêu chuẩn wafer PSL được sử dụng trong việc hiệu chuẩn các hệ thống kiểm tra wafer của KLA và Hitachi. Tiêu chuẩn truy cập hạt được sử dụng để tạo ra các thách thức kích thước bình xịt để hiệu chỉnh phản ứng kích thước của các máy đếm hạt laser. Hiệu chuẩn kích thước hoặc hệ thống kiểm tra quét bề mặt, SSIS, là một yêu cầu trong ngành công nghiệp bán dẫn. Các tiêu chuẩn kích thước 100nm đến 100 micron có thể được sử dụng trực tiếp từ chai mà không có bất kỳ pha loãng nào. Các tiêu chuẩn kích thước hạt được pha loãng theo các yêu cầu chính xác cho kích thước hạt đó và sử dụng trong các LPC, máy đếm hạt laser. Thời gian tối thiểu được sử dụng để thiết lập các bài kiểm tra hiệu chuẩn của bạn. Đường kính hình cầu được hiệu chuẩn với khả năng truy nguyên theo tiêu chuẩn kích thước NIST SRM. Các tiêu chuẩn truy cập hạt được đóng gói trong dung dịch nước khử ion của chai 15 mililit (mL). Các quả cầu có mật độ 1.05 g / cm3 và chỉ số khúc xạ 1.59 @ 589nm, được đo ở 25 độ C. Mỗi chai tiêu chuẩn truy cập hạt chứa Giấy chứng nhận hiệu chuẩn và truy nguyên nguồn gốc cho NIST bao gồm mô tả về phương pháp hiệu chuẩn và độ không đảm bảo của nó, và bảng các tính chất hóa học và vật lý. Hạt latex Polystyrene được đánh số nhiều cho dịch vụ kỹ thuật thuận tiện và hỗ trợ sau khi bán.